影(yǐng)響(xiǎng)測(cè)厚儀因(yīn)素(sù)的有關(guān)說(shuō)明：

　　a 基體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)磁(cí)性(xìng)質 磁性法(fǎ)測厚受基體(tǐ)金屬(shǔ)磁(cí)性變化(huà)的影響（在實際應(yīng)用(yòng)中，低(dī)碳鋼磁性的(dí)變化可(kě)以認為(wéi)是輕微的(dí)），為(wéi)了避免(miǎn)熱處理(lǐ)和冷加工因(yīn)素(sù)的影響，應使用與(yǔ)試件基(jī)體金屬(shǔ)具有(yǒu)相同(tóng)性質(zhì)的標準(zhǔn)片對儀器進行(háng)校準；亦可用(yòng)待(dài)塗覆試(shì)件進行校(xiào)準。

　　b 基(jī)體金(jīn)屬(shǔ)電性(xìng)質 基(jī)體(tǐ)金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有(yǒu)影(yǐng)響(xiǎng)，而(ér)基(jī)體金屬的電(diàn)導率與其(qí)材料成分(fēn)及熱處理(lǐ)方(fāng)法有(yǒu)關。使用與試件(jiàn)基體(tǐ)金(jīn)屬具(jù)有相同(tóng)性質的(dí)標(biāo)準片對(duì)儀器進行校(xiào)準(zhǔn)。

　　c 基體(tǐ)金屬(shǔ)厚度(dù) 每一(yī)種儀器都(dū)有一個基體金屬的臨(lín)界厚度(dù)。大於(yú)這(zhè)個厚度，測量(liáng)就(jiù)不受基(jī)體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)厚度(dù)的影(yǐng)響(xiǎng)。本儀器(qì)的(dí)臨界厚度(dù)值(zhí)見附(fù)表1。

　　d 邊緣(yuán)效應(yīng)

　　本儀器對試件(jiàn)表麵形(xíng)狀(zhuàng)的陡(dǒu)變敏感(gǎn)。因此在(zài)靠近試件邊緣或(huò)內轉角(jiǎo)處(chǔ)進行測量是不(bù)可靠的。

　　e 曲率 試件的(dí)曲率對測(cè)量(liáng)有(yǒu)影響。這(zhè)種(zhǒng)影響總(zǒng)是(shì)隨(suí)著(zhuó)曲率半(bàn)徑的減(jiǎn)少明顯地增大(dà)。因(yīn)此，在(zài)彎曲試件的表麵上測(cè)量是不(bù)可靠(kào)的(dí)。

　　f 試件的(dí)變形(xíng) 測(cè)頭(tóu)會使(shǐ)軟(ruǎn)覆(fù)蓋(gài)層(céng)試件(jiàn)變(biàn)形(xíng)，因此在這些試(shì)件上測出可(kě)靠(kào)的(dí)數(shù)據(jù)。

　　g 表麵粗糙度 基體(tǐ)金屬(shǔ)和(hé)覆蓋層的(dí)表麵粗糙程(chéng)度(dù)對測量有(yǒu)影響。粗(cū)糙(cāo)程度增(zēng)大(dà)，影響(xiǎng)增大(dà)。粗糙表(biǎo)麵會(huì)引起(qǐ)係統(tǒng)誤差和偶然(rán)誤差(chà)，每次測(cè)量(liáng)時，在不同位置上(shàng)應(yīng)增加(jiā)測量(liáng)的次數，以克服(fú)這(zhè)種(zhǒng)偶(ǒu)然(rán)誤差(chà)。如果基體金(jīn)屬(shǔ)粗(cū)糙(cāo)，還必須在(zài)未塗(tú)覆(fù)的(dí)粗(cū)糙度相(xiāng)類似的基(jī)體金屬(shǔ)試件上(shàng)取(qǔ)幾(jī)個(gè)位(wèi)置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕(shí)的溶(róng)液(yè)溶(róng)解(jiě)除去覆蓋層後，再(zài)校對儀器的零點。

　　g 磁場(cháng) 周(zhōu)圍(wéi)各種(zhǒng)電(diàn)氣(qì)設備(bèi)所產(chǎn)生的(dí)強(qiáng)磁場，會嚴重(zhòng)地幹擾磁性法測厚工(gōng)作。

　　h 附(fù)著物質(zhì) 本儀(yí)器對那些(xiē)妨(fáng)礙測頭與覆蓋層(céng)表麵緊(jǐn)密(mì)接(jiē)觸(chù)的(dí)附(fù)著(zhuó)物(wù)質敏感，因(yīn)此，必須清除(chú)附(fù)著物(wù)質(zhì)，以(yǐ)保(bǎo)證儀器(qì)測頭和(hé)被(bèi)測試(shì)件表麵直(zhí)接(jiē)接(jiē)觸。

　　i 測(cè)頭壓力 測頭(tóu)置於試件(jiàn)上所(suǒ)施加(jiā)的壓力(lì)大小會(huì)影響測量的讀(dú)數，因此，要保(bǎo)持(chí)壓力(lì)恒(héng)定。

　　j 測頭(tóu)的取向 測頭(tóu)的放(fàng)置方式(shì)對測量有影響(xiǎng)。在(zài)測(cè)量中(zhōng)，應當使測頭(tóu)與試樣(yàng)表麵保持垂直。